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三羟甲基氨基甲烷Tris对DNA链断裂的保护作用

三羟甲基氨基甲烷Tris对DNA链断裂的保护作用

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发布时间:2020-11-17 17:59   更新时间:2020-11-17 17:59

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视频简介
  质粒DNA的辐射损伤通常通过两种方式发生:直接作用和间接作用。在直接作用中,DNA本身被电离。间接作用则涉及到DNA周围溶液的辐射分解及随之而来的DNA与溶剂辐解产物的互作]。据估计,在高LET辐射后80%的细胞致死效应是由直接作用造成的。因此研究高LET辐射对DNA的损伤极有必要,这也有助于阐明高LET射线较高相对生物学效应的分子机制。

  研究电离辐射对DNA损伤时,选择恰当的DNA溶解体系显然有助于获得更为准确可靠的实验结果。DNA最常见的溶解体系是TE缓冲液,其主要成分是pH8.0的10mmol/LTris(三羟甲基氨基甲烷)和lmmol/LEDTA(乙二胺四乙酸)。我们看一下研究的主要原理。

  利用100keV/p.m碳离子束(初始能量为290MeV/u)照射溶解于纯水、10mmol/LTris、1mmol/LED一rA及TE缓冲液中的pUC19质粒DNA。通过琼脂糖凝胶电泳技术分析了不同溶液中各种形态DNA分子所占份额,并计算得到不同剂量下平均每个质粒分子中单链断裂(SSB)及双链断裂(DSB)的数目。发现Tris通过抑制SSB和DSB的产生对碳重离子辐照下的质粒DNA有明显的保护作用,而EDTA能够加剧SSB的产生而抑制DSB的形成。

  从上图可以看出,随着辐照剂量的增大,超螺旋DNA在总DNA中所占的百分比越来越少。相对于水及EDTA,处于Tris及TE缓冲液中的超螺旋DNA的含量明显减少较慢,当剂量增大至150Gy时,Tris及TEBuffer中的超螺旋DNA的量尚且大于80%,然EDTA及水中的超螺旋DNA的含量不足6O%。这说明Tri中的质粒DNA在辐照条件下产生的链断裂明显少于水及EDTA中的DNA分子。
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